- Анализаторы химического состава в материалах
- Решения для 3D-печати и 3D-сканирования
- Вакуумное оборудование
- Водоподготовка
- Испытательное оборудование
- Микроэлектроника
- Оборудование для лазерной маркировки изделий
- Оптическая и электронная микроскопия
- Перчаточные боксы
- Печи
- Прессы
- Технические газы
- Электронно-лучевая сварка
- Специальные предложения
Rohde&Schwarz ZVA24 2 порта
в наличии на складе

Rohde&Schwarz ZA24 4 порта
в наличии на складе

Inspekt table 250kN

Установка очистки и осушки кислорода DPO75

Генератор азота GN 20.20

Спектроскопические эллипсометры SENTECH Instruments GmbH
SE 850 - спектроскопический УФ-ВИД-ИК (UV-VIS-NIR) эллипсометр производства SENTECH Instruments GmbH (Германия) с возможностью проведения измерений пленок под различными углами разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик как однослойных пленок, так и многослойных пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Измерение нанопленок. Спектральный диапазон: 240 - 2500 (3500) нм
SE 800 - спектроскопический УФ-ВИД (UV-VIS) эллипсометр производства SENTECH Instruments GmbH (Германия) с возможностью проведения измерений пленок под различными углами разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик как однослойных пленок, так и многослойных пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Измерение нанопленок. Спектральный диапазон: 380 (190) - 1000 (2500 или 3500) нм.
Высокопроизводительная автоматическая эллипсометрическая измерительная система SENDURO® на базе УФ-ВИД спектроскопического эллипсометра с возможностью сканирования производства SENTECH Instruments GmbH (Германия) для проведения измерений толщины и оптичеких показателей тонких пленок в производстве.
Спектральный диапазон: от 290 до 850 нм
Полностью автоматическое выравнивания образца нажатием одной кнопки
SpectraRay/3 программный пакет
Моторизованные столики для сканирования
Работа с пластинами до 200 мм и до 300 мм.
SENDIRА - высокопроизводительная FT-IR (ИК-Фурье) эллипсометерическая cистема производства SENTECH Instruments GmbH (Германия) со спектральным диапазоном 400 см-1 – 6000 см-1 (1666–25000 нм.) и управляемым компьютером моторизованным гониометром для проведения измерений толщины и оптичеких показателей тонких пленок в ИК спектре.
Спектральный диапазон: от 1666 до 25000 нм
ИК-фурье спектрометр в качестве источника света.
ACT (автоколлиматический телескоп) для выравнивания образца
SpectraRay/3 программный пакет
Большое количество опций
SENpro - бюджетный спектроскопический УФ-ВИД (UV-VIS) эллипсометр производства SENTECH Instruments GmbH (Германия) с возможностью проведения измерений пленок под различными углами разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик как однослойных пленок, так и многослойных пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Измерение нанопленок.
Спектральный диапазон: 370 - 1050 нм.
SpectraRay/3 программный пакет