ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД»
комплексное оснащение предприятий



+ 7 495 564-82-37

info@eav.su

Отправить запрос на оборудование

Сканирующие (растровые) электронные микроскопы JEOL (Япония)

JSM-IT100

Компактный растровый электронный микроскоп JSM-IT100 создавался как бюджетная модель в линейке РЭМ нового поколения компании JEOL. 

JSM-7610F

Растровый электронный микроскоп с термополевым катодом Шоттки, сочетающий в себе мощную электронную пушку и объективную линзу открытого типа (semi-in-lens). 

JSM-7800FPRIME

Новейший РЭМ с термополевым катодом JSM-7800F Prime позволяет получать изображение с самым высоким разрешением в мире для данного класса РЭМ, благодаря обновленному, по сравнению с предыдущей моделью JSM-7800F, режиму «Gentle Beam» (GBSH). Кроме того, максимальный ток пучка в пушке с катодом Шоттки конструкции «In-lens» увеличен с 200 нА до 500 нА.

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL JSM-7100F

JSM-7100F – сканирующий электронный микроскоп с катодом Шоттки. Этот микроскоп является оптимальным решением для работы с наноразмерными образцами, он совмещает в себе высокую разрешающую способность необходимую для получения высокого разрешения при больших увеличениях при визуальном исследования образцов и высокие токовые характеристики электронного пучка (ток пучка до 200 нА).

Автоэмиссионный сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL JSM-7500F

JSM-7500F – автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп ультравысокого разрешения. Данный прибор уникален тем, что даже при низком ускоряющем напряжении он обеспечивает сверхвысокое разрешение (1,4нм при 1кВ). Это делает JSM-7500F прекрасным инструментом для анализа текстуры наноструктурных объектов, особенно тех, которые чувствительны к воздействию электронных пучков.

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL JSM-7600F

JSM-7600F – новейшая модель в линейке сканирующих электронных микроскоп JEOL, в которой реализованы все последние достижения в технологии электронной оптики JEOL. Термополевой катод (Шоттки), объективная линза с низкими аберрациями и высокая стабильность обеспечивают высокое разрешение и тонкий зонд даже при высоких токах пучка (свыше 200нА при 15кВ). Это идеальное решение для исследования и анализа наноструктур.

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп высокого разрешения JEOL JSM-7800F

JSM 7800F растровый электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки и супергибридной объективной линзой. В этом микроскопе реализованы последние достижения в технологии электронной оптики, что позволяет получать на данном микроскопе изображения с очень высоким разрешением. Микроскоп JSM 7800F является уникальным исследовательским инструментом для исследования в различных областях науки.

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-6510

JEOL JSM-6510 - компактный многоцелевой РЭМ с предельной простотой управления и высоким качеством оптики.

Данный микроскоп создан для удовлетворения запросов как самых взыскательных исследователей, так и инженеров, использующих сканирующий электронный микроскоп в качестве средства контроля. Все возможности инструмента доступны даже начинающим пользователям.

Растровые электронные микроскопы JEOL с полевой эмиссией (автоэмиссионные РЭМ)

Растровые электронные микроскопы с автоэмиссионной пушкой (полевая эмиссия) обладают высокой разрешающей способностью (до 0,7 нм). В автоэмиссионной пушке используется катод в форме острия, у вершины к-рого возникает сильное элекгрич. поле, вырывающее электроны из катода (автоэлектронная эмиссия). Электронная яркость пушки с автоэмиссионным катодом в 103-104 раз выше яркости пушки с термокатодом. Соответственно увеличивается ток электронного зонда.

Двухлучевая система JEOL серии JIB-4501 с термоэмиссией

Ионная пушка + расторовый электронный микроскп с термоэмиссией

Ионная пушка с ускоряющими напряжением от 1 до 30 кВ

Электронно-оптическая колонна ускоряющим напряженм от 0,3 до 30 кВ

Увеличение на РЭМ от 5 до 300 000 крат

Ускоряющее напряжение до 30 кВ

Разрешение до 2,5 нм в режиме высокого вакуума

Диаметр образца до 75 мм, высота до 30 мм

Cканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-IT300

Увеличение от 5 до 300 000 крат

Ускоряющее напряжение до 30 кВ

Разрешение до 3 нм в режиме высокого вакуума

Режимы высокого и низкого вакуума

Диаметр образца до 200 мм, высота до 80 мм, до 2 кг

Опция - интегрированный ЭДС, ВДС и др.

Cканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-6010

Увеличение от 5 до 300 000 крат

Ускоряющее напряжение до 20 кВ

Разрешение до 4 нм в режиме высокого вакуума

Режимы высокого и низкого вакуума

Диаметр образца до 150 мм, высота до 50 мм

Опция - интегрированный ЭДС

Настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JCM-6000 Neoscope II

Увеличение от 10 до 60 000 крат

Разрешение до 20 нм в режиме высокого вакуума

Режимы высокого и низкого вакуума

Диаметр образца до 70 мм, высота до 50 мм

Опция - интегрированный ЭДС


X
Запрос на оборудование
Заказать интересующее вас оборудование вы можете с помощью приведенной ниже формы.Специалисты ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД» свяжутся с вами в ближайшее время для уточнения вашего заказа и проконсультируют по всем интересующим вопросам.
ФИО *
Телефон *
Организация *
Какая продукция интересует?
Электронный адрес
Текст сообщения: *
Пройдите проверку:*