ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД»
комплексное оснащение предприятий



+ 7 495 564-82-37

info@eav.su

Отправить запрос на оборудование

Сфокусированный пучок JEOL (Япония)

JIB-4610F Multi Beam

Совмещенные в одной системе Катод шоттки с полевой эмиссией и Галлиевая ионная пушка 

JIB-4501 MultiBeam SEM-FIB

Ток пучка: до 60 nA (30 kV)

Галлиевая ионная пушка

JIB-4000 Focused Ion Beam Milling & Imaging System

Галлиевая ионная пушка

Ток пучка до 60 nA (30 kV)

JEOL JIB-4500 - двухлучевая (ионно-электронная) система с термоэмиссионным источником электронов LaB6

JEOL JIB-4500 MultiBeam – это недорогой в обслуживании высокопроизводительный растровый электронный микроскоп (РЭМ) с катодом из гексаборида лантана + высокопроизводительная приставка со сфокусированным ионным пучком (Focused ion beam).

JEOL JIB-4600F - двухлучевая (ионно-электронная) система с термополевым источником электронов Шоттки

JIB-4600F MultiBeam —гибридная система, сочетающая в себе высокоразрешающий РЭМ и систему со сфокусированным ионным пучком для микротравления (послойное травление образцов).

JEOL JEM-9320FIB - ионный микроскоп и система пробоподготовки

Система сфокусированного ионного пучка JEM-9320FIB предназначена для модификации образцов тонкосфокусированным пучком ионов галия.

Пушка с источником из жидкого галия обеспечивает токи до 30 нА при малом диаметре зонда.


X
Запрос на оборудование
Заказать интересующее вас оборудование вы можете с помощью приведенной ниже формы.Специалисты ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД» свяжутся с вами в ближайшее время для уточнения вашего заказа и проконсультируют по всем интересующим вопросам.
ФИО *
Телефон *
Организация *
Какая продукция интересует?
Электронный адрес
Текст сообщения: *
Пройдите проверку:*