ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД»

комплексное оснащение предприятий



+ 7 495 564-82-37

info@eav.su

Отправить запрос на оборудование

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-6510


снято с производства
JEOL JSM-6510 - универсальный сканирующий (растровый) электронный микроскоп (РЭМ) производства компании JEOL (Япония)
JEOL Ltd. - мировой лидер в производстве и разработке сканирующих (растровых) электронных микроскопов (РЭМ), просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), анализаторов поверхности (ОЖЕ микроанализаторы, фотоэлектронные спектрометры, электронно-зондовые микроанализаторы EPMA), системы с фокусированным ионным пучком, масс-спектрометров, спектрометров ядерного магнитного резонанса (ЯМР) и систем электронно-лучевой литографии для производства полупроводниковых приборов.

JEOL JSM-6510 - компактный многоцелевой РЭМ с предельной простотой управления и высоким качеством оптики.
Данный микроскоп создан для удовлетворения запросов как самых взыскательных исследователей, так и инженеров, использующих сканирующий электронный микроскоп в качестве средства контроля. Все возможности инструмента доступны даже начинающим пользователям.
Интуитивно понятный интерфейс. Все операции по управлению микроскопом могут выполняться с помощью мышки и дополнительного выносного пульта. Многопользовательская система. С помощью новой системы сканирования можно работать на очень малых увеличениях. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения не требуется каких-либо дополнительных настроек. Благодаря уникальной конденсорной линзе с переменным фокусным расстоянием, разработанной фирмой JEOL, фокусировка и положение поля зрения даже на очень больших увеличениях поддерживаются неизменным.

jsm6610measure.jpg

Низковакуумная модель РЭМ JSM-6510LV имеет, в дополнение к обычному, высоковауумному, низковакуумный режим работы. В таком режиме можно изучать непроводящие образцы безо всякого препарирования, а затем проанализировать их с помощью энергодисперсионного спектрометра.

Эвцентрический столик образца не меняет поле зрения (точку интереса) и фокусировку при вращении и наклоне образца. Столик предназначен для наблюдения особенностей строения поверхности образцов, в том числе, под разными углами. Вы можете наблюдать третье измерение – глубину образца и строить трехмерные изображения, путём получения серий стереоизображений. Качество стереоизображений напрямую зависит от того, насколько точно сохраняется исходное положение образца при его вращении и наклоне.
На колонну микроскопа можно повесить одновременно от одного до трех дополнительных спектрометров (например, спектрометр с дисперсией по энергиям, по длинам волн и детектор картин дифракции отраженных электронов).

jsm6610sns.jpg

Основные технические характеристики:
Пространственное разрешение
3 нм (2,5нм с катодом LaB6)
Ускоряющее напряжение
от 0,3кВ до 30 кВ
Диапазон увеличений
от х5 до х300 000
Максимальный размер образца
диаметр до 150 мм, высота до 48 мм
Виды контраста
вторичные электроны: топографический контраст ; отражённые электроны: композиционный, топографический, теневой контрасты.
Катод
W или LaB6 (опция)
Столик образцов
эвцентрический моторизация до 5 осей с компьютерным управлением (опция)диапазон перемещений: Х – 80 мм, Y – 40 мм, Z – от 5 до 48 мм. наклон: от -10 до +90 градусов, вращение 360 градусов.
Операционная система
для MS Windows XP Pro


X
Запрос на оборудование
Заказать интересующее вас оборудование вы можете с помощью приведенной ниже формы.Специалисты ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД» свяжутся с вами в ближайшее время для уточнения вашего заказа и проконсультируют по всем интересующим вопросам.
ФИО *
Телефон *
Организация *
Какая продукция интересует?
Электронный адрес
Текст сообщения: *
Пройдите проверку:*