ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД»

комплексное оснащение предприятий



+ 7 495 564-82-37

info@eav.su

Отправить запрос на оборудование

200-киловольтный универсальный просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100


JEOL JEM-2100 - 200-киловольтный универсальный термополевой просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) производства компании JEOL (Япония)

JEOL Ltd. - мировой лидер в производстве и разработке сканирующих (растровых) электронных микроскопов (РЭМ), просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), анализаторов поверхности (ОЖЕ микроанализаторы, фотоэлектронные спектрометры, электронно-зондовые микроанализаторы EPMA), системы с фокусированным ионным пучком, масс-спектрометров, спектрометров ядерного магнитного резонанса (ЯМР) и систем электронно-лучевой литографии для производства полупроводниковых приборов.

Фирма JEOL производит просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ) с 1949г. Сегодня она выпускает различные модели ПЭМ, с диапазоном ускоряющих напряжений от 100кэВ до 1000кэВ.

JEM-2100 построен на основе легендарного ПЭМ JEM-2010, который долгое время считался стандартом «де факто» в промышленных приложениях электронной микроскопии и демонстрировал наилучшие показатели надежности, качества изображений и аналитических возможностей среди всех 200 кВ электронных микроскопов высокого разрешения. JEM-2100 имеет улучшенную систему управления и более совершенную защиту от вибраций. Прибор управляется компьютером на базе операционной системы Windows.

На прибор можно устанавливать различные приставки: ЭДС и сканирующую приставки, различные детекторы (темного поля, вторичных и обратно-рассеянных электронов, и т.д.), держатели с охлаждением или нагревом, и т.п.
Использование в приборе катода из гексаборида лантана (LaB6) существенно снижает стоимость владения данным прибором.

JEM-2100 - электронный микроскоп, включающий не только базовый просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) для получения электронно-микроскопических изображений и электронограмм, но также и систему компьютерного управления, в которую может интегрироваться устройство наблюдения изображения в режиме просвечивающего растрового электронного микроскопа (ПРЭМ), энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (JED-2300) и электронный спектрометр потерь энергии (СПЭ) в любой комбинации.
• Высокая стабильность пучка: Высокая стабильность высокого напряжения и тока пучка, вместе с превосходной электронно-оптической системой, позволяет получать разрешение 0,19 нм (по точкам) при 200 кВ (с LaB6 катодом).
• Новая конструкция шасси колонны: Новая конструкция шасси колонны существенно снижает влияние вибраций на прибор.
• Аналитический электронный микроскоп: В энергодисперсионнй системе микроанализа применен новый детектор, сконструированный для работы при телесном угле сбора 0,28 стерад и угле сбора 24.1, что позволяет производить высоко точный анализ и быстрый набор данных микроанализа.
• Столик образцов. Новый гониометрический столик образцов дает возможность осуществлять точное перемещение образца в нанометровом шкале.
• Возможность модернизации: Основная компьютерная система позволяет осуществлять управление и сбор данных в режиме ПРЭМ, ЭДС микроанализа и СПЭ, сохраняя при этом простоту управления всем аналитическим комплексом. Также, полученную информацию можно передать для дальнейшей ее обработки на другие персональные компьютеры по локальной сети.

Основные технические характеристики:


Ускоряющее напряжение 
от 80кВ до 200 кВ
Разрешение по точкам
0.19 нм (200 кВ)
Разрешение по линиям
0.14 нм.
Электронная пушка
LaB6
Диапазон увеличений
x50 – x1,500,000

X
Запрос на оборудование
Заказать интересующее вас оборудование вы можете с помощью приведенной ниже формы.Специалисты ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД» свяжутся с вами в ближайшее время для уточнения вашего заказа и проконсультируют по всем интересующим вопросам.
ФИО *
Телефон *
Организация *
Какая продукция интересует?
Электронный адрес
Текст сообщения: *
Пройдите проверку:*