ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД»

комплексное оснащение предприятий



+ 7 495 564-82-37

info@eav.su

Отправить запрос на оборудование

200-киловольтный сверхвысокоразрешающий просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-ARM200F


JEOL JEM-ARM200F - 200-киловольтный просвечивающий электронный микроскоп сверх высокого разрешения (ПЭМ) производства компании JEOL (Япония)

JEOL Ltd. - мировой лидер в производстве и разработке сканирующих (растровых) электронных микроскопов (РЭМ), просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), анализаторов поверхности (ОЖЕ микроанализаторы, фотоэлектронные спектрометры, электронно-зондовые микроанализаторы EPMA), системы с фокусированным ионным пучком, масс-спектрометров, спектрометров ядерного магнитного резонанса (ЯМР) и систем электронно-лучевой литографии для производства полупроводниковых приборов.

Фирма JEOL производит просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ) с 1949г. Сегодня она выпускает различные модели ПЭМ, с диапазоном ускоряющих напряжений от 100кэВ до 1000кэВ.
JEM-ARM-200F - Самое высокое в мире гарантируемое разрешение в просвечивающем растровом режиме с темнопольным детектором (STEM-HAADF) составляет 0,08 нм.

JEM-ARM200F – прибор, анонсированный компанией JEOL в марте 2009 г. Эта модель оснащается штатным встроенным корректором сферических аббераций для ПРЭМ режима. Благодаря корректору удалось значительно повысить разрешение и аналитические возможности этого прибора, открывающие возможности изучения образцов на атомном уровне. Разрешение в растровом просвечивающем режиме составляет (STEM-HAADF) 0,08 нм, что является наивысшим значением в мире среди серийных моделей электронных микроскопов.

Электронный зонд после коррекции всех аберраций отличается тем, что он имеет на порядок большую плотность тока по сравнению с обычными просвечивающими электронными микроскопами. При тонкой фокусировке такого зонда микроскоп JEM-ARM200F позволяет проводить анализ на атомном уровне при значительном сокращении времени измерения и повышения производительности исследований.

JEM-ARM200F—квинтэссенция всех передовых разработок компании JEOL в области просвечивающей электронной микроскопии. Гарантированные характеристики этого ПЭМ, а также его стоимость, превосходят заявляемые параметры любого из ныне существующих на рынке просвечивающих электронных микроскопа.


Повышенная электрическая стабильность

Для достижения атомного разрешения, источник высокого напряжения и блоки питания линз электронно-оптической системы должны быть высоко стабильными. В микроскопе JEM-ARM200F флуктуации высокого напряжения и тока объективной линзы снижены на 50% по сравнению с обычными моделями, что существенно повышает электрическую стабильность всего микроскопа в целом.

Этот микроскоп позиционируется, прежде всего, как исследовательский инструмент высочайшего класса, хотя может использоваться для решения и технологических задач.

Основные технические характеристики:

Разрешение
 0.08 нм (в режиме  STEM, при 200кВ, с детектором темного поля);  0.11 nm (в режиме ПЭМ: при 200кВ, с корректором сферических аберраций для системы формирования изображения),  0,19нм (при 200кВ)
Электронная пушка
с катодом Шоттки
Ускоряющее напряжение
от 80кВ до 200 кВ
Диапазон увеличений
 от 100х до х150 000 000х в режиме STEM  от 50х до 2 000 000х в режиме ПЭМ
Столик образцов
Эвцентрического типа Гониометр бокового ввода
Размер образцов
3мм диаметр
Угол наклона образцов
±25° (с держателем с двойным наклоном)
Перемещение образца
X/Y: ±1 mm (моторизованный столик/ пьезоподвижка)
Корректор сферических аберраций
Для электронно-оптической системы – стандартно Для системы формирования изображения – опционально
Основные опции
Энергодисперсионный спектрометр Спектрометр характеристических потерь энергии электронов Цифровая камера

Повышенная механическая стабильность

Для обеспечения анализа и получения изображений на атомном уровне с использованием корректоров сферических аберраций для электронной оптики и проекционной системы, вибрации и дисторсии системы должны контролироваться также на атомном уровне. Прочность механической конструкции модели ARM200F по сравнению с обычными ПЭМ была повышена путем увеличения диаметра колонны для улучшения ее жесткости и путем оптимизации структуры консоли, улучшающей механическую стабильность всей системы.

Широкий спектр аналитических возможностей в просвечивающем растровом режиме(STEM)

Одновременно устанавливаются: два вида темнопольных детекторов с различными углами детектирования в STEM режиме (один в стандартной комплектации), светлопольный детектор (стандартная комплектация), детектор отраженных электронов (опционально). Новая сканирующая система сбора изображения одновременно получает до 4-ёх различных сигналов, и позволяет наблюдать 4 изображения одновременно.

Контроль влияния внешней среды

Вибрации и искажения на атомном уровне зачастую вызваны изменениями температуры и магнитных полей в комнате с микроскопом. ARM200F экранирован от температурных и магнитных флуктуаций в стандартной комплектации. Колонна изолирована кожухом от температурных колебаний вызванных конвекцией воздуха в помещении.

Корректор сферических аберраций для системы формирования ПЭМ изображения (опционально)

При использовании корректора сферических аберраций для системы формирования изображения в ПЭМ режиме, разрешение может быть улучшено до 0.11 нм.



X
Запрос на оборудование
Заказать интересующее вас оборудование вы можете с помощью приведенной ниже формы.Специалисты ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД» свяжутся с вами в ближайшее время для уточнения вашего заказа и проконсультируют по всем интересующим вопросам.
ФИО *
Телефон *
Организация *
Какая продукция интересует?
Электронный адрес
Текст сообщения: *
Пройдите проверку:*