ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД»
комплексное оснащение предприятий

+ 7 495 564-82-37

info@eav.su
Отправить запрос на оборудование

Лаборатории и промышленные предприятия нуждаются в проведении различных исследований, где необходимо получить изображения поверхности объекта с высоким разрешением, а также информацию о составе, строении и некоторых других свойствах. Для выполнения данной задачи нужно применять прибор класса электронный микроскоп. Сканирующий электронный (растровый) микроскоп подходит для этого. Купить данное оборудование вы сможете у нас на выгодных условиях.

Компактный растровый электронный микроскоп JSM-IT100 создавался как бюджетная модель в линейке РЭМ нового поколения компании JEOL. 

Растровый электронный микроскоп с термополевым катодом Шоттки, сочетающий в себе мощную электронную пушку и объективную линзу открытого типа (semi-in-lens). 

Новейший РЭМ с термополевым катодом JSM-7800F Prime позволяет получать изображение с самым высоким разрешением в мире для данного класса РЭМ, благодаря обновленному, по сравнению с предыдущей моделью JSM-7800F, режиму «Gentle Beam» (GBSH). Кроме того, максимальный ток пучка в пушке с катодом Шоттки конструкции «In-lens» увеличен с 200 нА до 500 нА.

JSM-7100F – сканирующий электронный микроскоп с катодом Шоттки. Этот микроскоп является оптимальным решением для работы с наноразмерными образцами, он совмещает в себе высокую разрешающую способность необходимую для получения высокого разрешения при больших увеличениях при визуальном исследования образцов и высокие токовые характеристики электронного пучка (ток пучка до 200 нА).

JSM-7500F – автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп ультравысокого разрешения. Данный прибор уникален тем, что даже при низком ускоряющем напряжении он обеспечивает сверхвысокое разрешение (1,4нм при 1кВ). Это делает JSM-7500F прекрасным инструментом для анализа текстуры наноструктурных объектов, особенно тех, которые чувствительны к воздействию электронных пучков.

JSM-7600F – новейшая модель в линейке сканирующих электронных микроскоп JEOL, в которой реализованы все последние достижения в технологии электронной оптики JEOL. Термополевой катод (Шоттки), объективная линза с низкими аберрациями и высокая стабильность обеспечивают высокое разрешение и тонкий зонд даже при высоких токах пучка (свыше 200нА при 15кВ). Это идеальное решение для исследования и анализа наноструктур.

JSM 7800F растровый электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки и супергибридной объективной линзой. В этом микроскопе реализованы последние достижения в технологии электронной оптики, что позволяет получать на данном микроскопе изображения с очень высоким разрешением. Микроскоп JSM 7800F является уникальным исследовательским инструментом для исследования в различных областях науки.

JEOL JSM-6510 - компактный многоцелевой РЭМ с предельной простотой управления и высоким качеством оптики.

Данный микроскоп создан для удовлетворения запросов как самых взыскательных исследователей, так и инженеров, использующих сканирующий электронный микроскоп в качестве средства контроля. Все возможности инструмента доступны даже начинающим пользователям.

Растровые электронные микроскопы с автоэмиссионной пушкой (полевая эмиссия) обладают высокой разрешающей способностью (до 0,7 нм). В автоэмиссионной пушке используется катод в форме острия, у вершины к-рого возникает сильное элекгрич. поле, вырывающее электроны из катода (автоэлектронная эмиссия). Электронная яркость пушки с автоэмиссионным катодом в 103-104 раз выше яркости пушки с термокатодом. Соответственно увеличивается ток электронного зонда.

Ионная пушка + расторовый электронный микроскп с термоэмиссией

Ионная пушка с ускоряющими напряжением от 1 до 30 кВ

Электронно-оптическая колонна ускоряющим напряженм от 0,3 до 30 кВ

Увеличение на РЭМ от 5 до 300 000 крат

Ускоряющее напряжение до 30 кВ

Разрешение до 2,5 нм в режиме высокого вакуума

Диаметр образца до 75 мм, высота до 30 мм

Увеличение от 5 до 300 000 крат

Ускоряющее напряжение до 30 кВ

Разрешение до 3 нм в режиме высокого вакуума

Режимы высокого и низкого вакуума

Диаметр образца до 200 мм, высота до 80 мм, до 2 кг

Опция - интегрированный ЭДС, ВДС и др.

Увеличение от 5 до 300 000 крат

Ускоряющее напряжение до 20 кВ

Разрешение до 4 нм в режиме высокого вакуума

Режимы высокого и низкого вакуума

Диаметр образца до 150 мм, высота до 50 мм

Опция - интегрированный ЭДС

Увеличение от 10 до 60 000 крат

Разрешение до 20 нм в режиме высокого вакуума

Режимы высокого и низкого вакуума

Диаметр образца до 70 мм, высота до 50 мм

Опция - интегрированный ЭДС

Электронные микроскопы характеризуются высоким уровнем мощности. Они позволяют выполнять увеличение до 1 000 000 крат. В оборудовании применяется пучок электронов. Для управления техникой используются особые магнитные линзы. Подобные возможности растровой электронной микроскопии подходят большинству потребителей и используются практически во всех областях науки и промышленности: от биологии до наук о материалах.

Преимущества приобретения сканирующего электронного микроскопа в ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД»

В нашей компании представлен большой ассортимент рассматриваемых приборов. Вы сможете приобрести растровые микроскопы на комфортных условиях. Приборы компании характеризуются надежной работой и длительным сроком эксплуатации. Постгарантийное и гарантийное обслуживание входит в перечень оказываемых нами услуг. Плюсы нашей компании — отличный сервис и отсутствие лишних наценок на технику.


X
Запрос на оборудование
Заказать интересующее вас оборудование вы можете с помощью приведенной ниже формы.Специалисты ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД» свяжутся с вами в ближайшее время для уточнения вашего заказа и проконсультируют по всем интересующим вопросам.
ФИО *
Телефон *
Организация *
Какая продукция интересует?
Электронный адрес
Текст сообщения: *
Пройдите проверку:*