ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД»
комплексное оснащение предприятий

Отправить запрос на оборудование
Заказать звонок

Сфокусированный пучок JEOL (Япония)

Совмещенные в одной системе Катод шоттки с полевой эмиссией и Галлиевая ионная пушка 

Ток пучка: до 60 nA (30 kV)

Галлиевая ионная пушка

Галлиевая ионная пушка

Ток пучка до 60 nA (30 kV)

JEOL JIB-4500 MultiBeam – это недорогой в обслуживании высокопроизводительный растровый электронный микроскоп (РЭМ) с катодом из гексаборида лантана + высокопроизводительная приставка со сфокусированным ионным пучком (Focused ion beam).

JIB-4600F MultiBeam —гибридная система, сочетающая в себе высокоразрешающий РЭМ и систему со сфокусированным ионным пучком для микротравления (послойное травление образцов).

Система сфокусированного ионного пучка JEM-9320FIB предназначена для модификации образцов тонкосфокусированным пучком ионов галия.

Пушка с источником из жидкого галия обеспечивает токи до 30 нА при малом диаметре зонда.