ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД»
комплексное оснащение предприятий

Отправить запрос на оборудование
Заказать звонок

JEM-1000


В силу того что сверхвысоковольтный электронный микроскоп имеет высокое (1 мегавольт) ускоряющее напряжение, длина волны (λ) электронов короткая – а это основной параметр определяющий разрешение микроскопа (d) в соответствии с формулой

d = 0.65Cs0.25λ0.75

В которой Cs – это коэффициент сферической аберрации. Таким образом, с сверхвысоковольтный электронным микроскопом атомарное разрешение получается независимо от величины зазора полюсного наконечника объективной линзы.

Другим преимуществом сверхвысоковольтного электронного микроскопа является высокая проникающая мощность, которая позволяет получать хорошо различимые изображения выявляя структуры толстослойных образцов. Это самое большое достоинство у сверхвысоковольтного микроскопа. Обычно, образец для (просвечивающего) электронного микроскопа должен быть ультратонким. Ультратонкие образцы иногда теряют основное свойства материала, который используется в качестве образца. С преимуществом сверхвысоковольтного напряжения возможно исследовать толстослойные препараты (образцы) которые сохраняют свойство исходного материала.


Разрешение
(при ускоряющем напряжении 1000кВ)
в режиме ПРЭМ (STEM) 2нм
в режиме ПЭМ (TEM) по точкам 0.16нм по решетке 0.1нм
Увеличение в режиме
ПРЭМ (STEM) x20,000 ~ x2,000,000 в режиме TEM x200 ~ x1,200,000
Катод
LaB6
Ускоряющее напряжение
800, 1000 кВ стабильность ≦8 x 10-7/min

Похожая продукция

Вы недавно смотрели: