- Анализаторы химического состава металлов и сплавов
- Решения для 3D-печати и 3D-сканирования
- Вакуумное оборудование
- Водоподготовка
- Испытательное оборудование
- Коррозионное оборудование
- Оборудование для микроэлектроники
- Оборудование для лазерной маркировки изделий
- Оптическая и электронная микроскопия
- Перчаточные боксы
- Печи
- Гидравлические и механические прессы
- Технические газы
- Электронно-лучевая сварка
- Специальные предложения
- Главная
- Промышленное и лабораторное оборудование
- Оптическая и электронная микроскопия
- Оптические микроскопы Nikon (Япония)
- Инспекционные микроскопы
- Микроскоп Nikon ECLIPSE L300N
Микроскоп Nikon ECLIPSE L300N
Серия ECLIPSE L300N (IC inspection) - инспекционные микроскопы для контроля качества интегральных схем в полупроводниковой промышленности и микроэлектронике.
Системы микроскопии для контроля качества 300 мм пластин и фотошаблонов, предназначенные для обнаружения дефектов в отраженном свете. Улучшенная функция эпифлуоресценции, позволяющая производить измерения на длине волны 365 нм(UV). Микроскоп является оптимальным решением для контроля остатков резиста на пластинах (до 300 мм).
Категория: Микроскопы для производства полупроводников
Применение: пластины, полупроводниковые пластины (диаметр до 300 мм или 300х300 мм), ЖК дисплеи (17-дюймовый для ECLIPSE L300D), фотошаблоны
Методы получения изображения: Светлое поле, темное поле, ДИК, простая поляризация, эпи-флуоресценция
Объективы: Серия CFI60 (бесконечная), увеличение от 15 до 2000 крат (в зависимости от окуляра и объектива), с увеличенным рабочим расстоянием, со сверхбольшим рабочим расстоянием.
БРОШЮРА NIKON L200N/L200ND/L300N/L300ND В PDF