Микроскоп Nikon ECLIPSE L300N

Серия ECLIPSE L300N (IC inspection) - инспекционные микроскопы для контроля качества интегральных схем в полупроводниковой промышленности и микроэлектронике.

Системы микроскопии для контроля качества 300 мм пластин и фотошаблонов, предназначенные для обнаружения дефектов в отраженном свете. Улучшенная функция эпифлуоресценции, позволяющая производить измерения на длине волны 365 нм(UV). Микроскоп является оптимальным решением для контроля остатков резиста на пластинах (до 300 мм).

Категория: Микроскопы для производства полупроводников
Применение: пластины, полупроводниковые пластины (диаметр до 300 мм или 300х300 мм), ЖК дисплеи (17-дюймовый для ECLIPSE L300D), фотошаблоны
Методы получения изображения: Светлое поле, темное поле, ДИК, простая поляризация, эпи-флуоресценция
Объективы: Серия CFI60 (бесконечная), увеличение от 15 до 2000 крат  (в зависимости от окуляра и объектива), с увеличенным рабочим расстоянием, со сверхбольшим рабочим расстоянием.

Похожая продукция

Микроскоп Nikon ECLIPSE L300

Подробнее

Автоматический загрузчик пластин NWL200

Подробнее

Микроскоп Nikon ECLIPSE L200 / L200D

Подробнее