ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД»
комплексное оснащение предприятий

Отправить запрос на оборудование
Заказать звонок

Микроскоп Nikon ECLIPSE L200 / L200D


Серия ECLIPSE L200 (IC inspection) - инспекционные микроскопы для контроля качества интегральных схем в полупроводниковой промышленности и микроэлектронике. Системы микроскопии для контроля качества 200 мм пластин и фотошаблонов, предназначенные для обнаружения дефектов в отраженном свете.

Самостоятельно или в комбинации с загрузчиком пластин микроскопы серии L200 обеспечивают исключительную точность в процессе оптического контроля полупроводниковых пластин, фотошаблонов, сеток и прочих подложек.

ECLIPSE L200 инспекционный микроскоп: Контроль качества 200 мм пластин и фотошаблонов для обнаружения дефектов в отраженном свете.

ECLIPSE L200ND инспекционный микроскоп: Автоматизированная версия модели L200. Часто используемые операции, такие как настройка апертуры, фокусировка, смена режима наблюдения светлое/темное поле, вращение револьвера объективов, регулировка интенсивности освещения и настройка ДИК, моторизованы, и управление ими может осуществляться с помощью дистанционного управления или с ПК. Может оснащаться автоматическим загрузчиком пластин.

ECLIPSE L200A инспекционный микроскоп: Самая передовая модель. Обладает также возможностью наблюдений в проходящем свете, что идеально подходит для задач контроля качества ЖК-панелей и фотошаблонов.

Категория: Микроскопы для производства полупроводников
Применение: пластины, полупроводниковые пластины (диаметр до 200 мм или 200х200 мм), ЖК дисплеи, фотошаблоны
Методы получения изображения: Светлое поле, темное поле, ДИК, простая поляризация
Объективы: Серия CFI60 (бесконечная), увеличение от 50 до 1000 крат, с увеличенным рабочим расстоянием, со сверхбольшим рабочим расстоянием.


БРОШЮРА NIKON L200N/L200ND/L300N/L300ND В PDF


Похожая продукция

Вы недавно смотрели: