- Анализаторы химического состава металлов и сплавов
- Решения для 3D-печати и 3D-сканирования
- Вакуумное оборудование
- Водоподготовка
- Испытательное оборудование
- Коррозионное оборудование
- Оборудование для микроэлектроники
- Оборудование для лазерной маркировки изделий
- Оптическая и электронная микроскопия
- Перчаточные боксы
- Печи
- Гидравлические и механические прессы
- Технические газы
- Электронно-лучевая сварка
- Специальные предложения
- Главная
- Промышленное и лабораторное оборудование
- Оптическая и электронная микроскопия
- Анализаторы поверхности JEOL
- Фотоэлектронный спектрометр JEOL JPS-9010
Фотоэлектронный спектрометр JEOL JPS-9010
JEOL JPS-9010 - фотоэлектронный рентгеновский спектрометр для микроанализа поверхности (X-ray Photoelectron Spectrometer) производства компании JEOL (Япония)
JEOL Ltd. - мировой лидер в производстве и разработке сканирующих (растровых) электронных микроскопов (РЭМ), просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), анализаторов поверхности (ОЖЕ микроанализаторы, фотоэлектронные спектрометры, электронно-зондовые микроанализаторы EPMA), системы с фокусированным ионным пучком, масс-спектрометров, спектрометров ядерного магнитного резонанса (ЯМР) и систем электронно-лучевой литографии для производства полупроводниковых приборов.
Фотоэлектронный спектрометр JEOL JPS-9010
Фотоэлектронный спектрометр XPS (X-ray Photoelectron Spectrometer) для микроанализа поверхности.
JEOL JPS-9010 - рентгено-фотоэлектронный рентгеновский спектрометр, используемый для микроанализа поверхности широкого набора типов образцов. Новый полусферический анализатор энергии электронов состоит из комбинации электростатических ускоряющих линз и электромагнитных линз для улучшения чувствительности в 20 раз по сравнению с предыдущими моделями.
JEOL JPS-9010 аналитический инструмент для анализа и оценки элементного состава, химического состояния элементов на поверхности с высокой локальностью.
XPS (X-ray Photoelectron Spectrometer) - мощнейший аналитический инструмент для разработки новых материалов, тестирования поверхности большого количества образцов, включая металлы, полупроводники, высокомолекулярные полимеры и др.
Серия приборов JEOL JPS-9010 состоит из трех приборов для достижения различных требований при исследовании: JPS-9010MC (с монохроматическим источником рентгеновского излучения), JPS-9010MX и JPS-9010TR (с использованием системы полного рентгеновского отражения- Total Reflection X-ray Photoelectron Spectroscopy (TRXPS)).
Высокая точность
Источник рентгеновского излучения для минимизации повреждения образцов
Компактный рентгеновский монохроматор
Ультрачистая вакуумная система
Автоматический анализатор для проведения рутинных измерений
Большой предметный столик для больших образцов, таких как, например, жесткий диск компьютера
Легкое в использовании Программное обеспечение
Программное обеспечение для высокоскоростного разделения пиков
JEOL Ltd. - мировой лидер в производстве и разработке сканирующих (растровых) электронных микроскопов (РЭМ), просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), анализаторов поверхности (ОЖЕ микроанализаторы, фотоэлектронные спектрометры, электронно-зондовые микроанализаторы EPMA), системы с фокусированным ионным пучком, масс-спектрометров, спектрометров ядерного магнитного резонанса (ЯМР) и систем электронно-лучевой литографии для производства полупроводниковых приборов.
Фотоэлектронный спектрометр JEOL JPS-9010
Фотоэлектронный спектрометр XPS (X-ray Photoelectron Spectrometer) для микроанализа поверхности.
JEOL JPS-9010 - рентгено-фотоэлектронный рентгеновский спектрометр, используемый для микроанализа поверхности широкого набора типов образцов. Новый полусферический анализатор энергии электронов состоит из комбинации электростатических ускоряющих линз и электромагнитных линз для улучшения чувствительности в 20 раз по сравнению с предыдущими моделями.
JEOL JPS-9010 аналитический инструмент для анализа и оценки элементного состава, химического состояния элементов на поверхности с высокой локальностью.
XPS (X-ray Photoelectron Spectrometer) - мощнейший аналитический инструмент для разработки новых материалов, тестирования поверхности большого количества образцов, включая металлы, полупроводники, высокомолекулярные полимеры и др.
Серия приборов JEOL JPS-9010 состоит из трех приборов для достижения различных требований при исследовании: JPS-9010MC (с монохроматическим источником рентгеновского излучения), JPS-9010MX и JPS-9010TR (с использованием системы полного рентгеновского отражения- Total Reflection X-ray Photoelectron Spectroscopy (TRXPS)).
Высокая точность
Источник рентгеновского излучения для минимизации повреждения образцов
Компактный рентгеновский монохроматор
Ультрачистая вакуумная система
Автоматический анализатор для проведения рутинных измерений
Большой предметный столик для больших образцов, таких как, например, жесткий диск компьютера
Легкое в использовании Программное обеспечение
Программное обеспечение для высокоскоростного разделения пиков
Похожая продукция
Вы недавно смотрели: