ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД»
комплексное оснащение предприятий

Отправить запрос на оборудование
Заказать звонок

Лазерные эллипсометры SENTECH Instruments GmbH

CER SE 500adv - уникальный комбинированный лазерный (сканирующий) эллипсометр-рефлектометр производства SENTECH Instruments GmbH (Германия) с возможностью проведения измерений пленок под различными углами разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Измерение нанопленок.

Длина волны эллипсометра - 632,8 нм

Диапазон длины волны рефлектометра - 450-920 нм.

Диапазон измерения толщины пленок с эллипсометром: 1 нм до 6000 нм.

Диапазон измерения толщины пленок с рефлектометром: 50 нм до 25000 нм.

SE 400adv - новейший лазерный (сканирующий) эллипсометр производства SENTECH Instruments GmbH (Германия) с возможностью проведения измерений пленок под различными углами разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Измерение нанопленок.

Длина волны - 632,8 нм

Диапазон измерения толщины пленк: 1 нм до 6000 нм.