ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД»
комплексное оснащение предприятий

+ 7 495 564-82-37

info@eav.su
Отправить запрос на оборудование

Инспекционные микроскопы

NWL200 - новейший и наиболее «продвинутый» загрузчик пластин от Nikon для микроскопов для визуального контроля интегральных схем.

Серия ECLIPSE L300 (IC inspection) - инспекционные микроскопы для контроля качества интегральных схем в полупроводниковой промышленности и микроэлектронике.

Системы микроскопии для контроля качества 300 мм пластин и фотошаблонов, предназначенные для обнаружения дефектов в отраженном свете.

Серия ECLIPSE L300N (IC inspection) - инспекционные микроскопы для контроля качества интегральных схем в полупроводниковой промышленности и микроэлектронике.

Системы микроскопии для контроля качества 300 мм пластин и фотошаблонов, предназначенные для обнаружения дефектов в отраженном свете. Улучшенная функция эпифлуоресценции, позволяющая производить измерения на длине волны 365 нм (UV). Микроскоп является оптимальным решением для контроля остатков резиста на пластинах (до 300 мм).

Серия ECLIPSE L200 (IC inspection) - инспекционные микроскопы для контроля качества интегральных схем в полупроводниковой промышленности и микроэлектронике. Системы микроскопии для контроля качества 200 мм пластин и фотошаблонов, предназначенные для обнаружения дефектов в отраженном свете.

Самостоятельно или в комбинации с загрузчиком пластин микроскопы серии L200 обеспечивают исключительную точность в процессе оптического контроля полупроводниковых пластин, фотошаблонов, сеток и прочих подложек.


X
Запрос на оборудование
Заказать интересующее вас оборудование вы можете с помощью приведенной ниже формы.Специалисты ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД» свяжутся с вами в ближайшее время для уточнения вашего заказа и проконсультируют по всем интересующим вопросам.
ФИО *
Телефон *
Организация *
Какая продукция интересует?
Электронный адрес
Текст сообщения: *
Пройдите проверку:*