ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД»
комплексное оснащение предприятий



+ 7 495 564-82-37

info@eav.su

Отправить запрос на оборудование

Аналитическое оборудование и метрология

Комбинированный рентгеновский дифрактометр Omega/Theta-Theta сканирования

Omega/Theta рентгеновский дифрактометр представляет собой полностью автоматизированный вертикальный трех-осевой дифрактометр для определения ориентации в различных кристаллов с использованием метода Омега-сканирования и определения кривой качания с использованием метода Тета-сканирования.

Рентгеновские дифрактометры для определения ориентации в монокристаллах

DDCOM рентгеновский дифрактометр для определения ориентации в монокристаллах метором Омега-сканирования позволяет за один оборот в короткое время, до 5 секунд и с высокой точностью до 1/100° определить ориентацию кристаллической решетки в 3D, что в 200 раз быстрее, чем распространённый метод Tehta-scan (Тета-сканированиe).

УФ/Вид спектрофотометр UV-2100

Химический анализ в различных областях промышленности, образования и науки.

ИК-Фурье спектрометры WQF-510/520

Области применения спектрометров: нефтехимия, биология, медицина, охрана окружающей среды, материаловедение, торговля, национальная безопасность и.т.д.

Системы микроволновой пробоподготовки для AAS и ICP спектрометрии MICHEM

Давление до 35 бар

Температура до 230 °С

Объем ячейки 80 мл

Управление: микроконтроллер или персональный компьютер

Методическое обеспечение приготовления труднорастворимых проб Заказчика

Приставка электротермической атомизации WF-1C

Температурный диапазон: Комнатная температура – 3000 °С

Точность температурного контроля <= 1%

Скорость нагрева 2000 °С/сек

Предел обнаружения Cd <= 0.5x10–12 г, Cu <= 5x10–12 г, Мо <= 1x10–12 г

Точность Cd <= 3%; Cu <= 3%; Мо <= 4%

Атомно-абсорбционный спектрометр WFX-110

Метод атомно-абсорбционной спектрометрии с использованием пламени воздух насыщенный кислородом - ацетилен

Насыщение воздуха кислородом является новым методом высокотемпературного пламенного атомно-абсорбционного спектрального анализа, применяемого в спектрометре WFX-110 BRAIC (№ 29191-05 в Государственном реестре средств измерений). Он является безопасным для окружающей среды и, кроме того, является экономичным и удобным в работе.

Автоматический атомно-абсорбционный спектрометр WFX-210

Назначение: охрана окружающей среды, геология, металлургия, химическая промышленность, сельское хозяйство, пищевая промышленность, медицина и.т.д.

Характеристики атомно-абсорбционных спектрометров BRAIC

Патентованная технология пламенного анализа с применением насыщенного кислородом пламени «воздух-ацетилен» для высокотемпературного элементного анализа.

Автоматическая смена ламп с полым катодом.

Автоматическая замена и подбор оптимального положения горелки.

Автоматический розжиг, автоматический выбор ширины спектрального диапазона.

Полностью автоматизированная развёртка и построение спектральных пиков. Автоматическая регулировка потока газа.

Стандартное интерфейсное соединение RS-232.

Высокая безопасность, система аварийной сигнализации и автоматическая защита от утечки горючего газа, недостатка давления воздуха и ненормального гашения пламени.

Распылительная камера выполнена из взрывоустойчивого материала; для пламенного метода анализа применяются титановая горелка и взрывоустойчивый ограничитель.

Мощный встроенный микроконтроллер.

Обработка данных и калибровка под управлением персонального компьютера.

Печной анализ с применением высокоэффективного встраиваемого модуля.

ИСП-спектрометр ICPS-1000-1

Cпектрометр ICPS 1000-I может широко использоваться в областях охраны окружающей среды, геологии, металлургии, химической промышленности, сельском хозяйстве, пищевой промышленности, медицине и.т.д. для быстрого и автоматизированного определения микроскопических и следовых концентраций большинства элементов таблицы Д.И.Менделеева.

NANO-Viewer - дифрактометр малого рентгеновского рассеяния

Благодаря нанотехнологиям в различных областях деятельности стали находить применение такие новые материалы, как геномы (белки), полупроводниковые материалы, высокополимерные материалы, экологические материалы и т.д.

Прибор рентгеноструктурного анализа NANO-Viewer (измерительный прибор малоуглового рентгеновского рассеяния) осуществляет характеризацию этих передовых материалов, начиная с молекулярного уровня (1 нм ~ 100 нм макроструктуры) и кончая атомным уровнем (0.2 нм ~ 1 нм микроструктуры).

 D/MAX RAPID II  - система микродифракции с изогнутым пространственным детектором

D/MAX RAPID II - это двумерный рентгеновский дифрактометр с детектором в виде изогнутой пластины изображения IP (Imaging Plate) большой площади -мощный рывок в мире микродифракции.

Прибор позволяет одновременно получать двумерную дифракционную картину широких и малых углов рентгеновского рассеяния.

Быстро и легко производит измерения микрообластей массивных образцов, измерения обычных порошков, пленок, мелких кристаллов и т.д., образцов разных видов, а также образцов малого количества.

К тому же двумерное изображение наглядно показывает разницу в размерах гранул образцов, ориентации образцов и т.д.

Способен идентифицировать моно и поликристаллы.

TTRAX III - cверхмощный рентгеновский дифрактометр с горизонтальным расположением исследуемых образца

TTRAX III -Прибор, созданный на основе многофункциональной D/MAX-Ultima III системы, усовершенствован заменой источника рентгеновского излучения на сверхмощный рентгеновский излучатель с вращающимся анодом.

Из всех рентгеновских дифракционных систем RIGAKU TTRAX III является самой передовой моделью.

Прибор может легко изменять в соответствии с измеряемым образцом, техникой измерения и целью измерения: от стандартных измерений порошковых и тонкопленочных материалов до измерений In-situ с изменением температуры и влажности атмосферы; малоугловых измерений распределения зерен по размерам Low-k тонкой пленки и т.д.; In-Plane измерений для характеризации тонкопленочных образцов толщиной порядка нескольких нанометров и т.д.

SmartLab - рентгеновский дифрактометр характеризации тонких пленок с горизонтальным расположением измеряемого образца

Дифрактометр RIGAKU SmartLab – полностью автоматизированная система для структурного анализа, включающая в себя вертикальный Тета-Тета гониметр с высоким разрешением, оптику параллельного пучка (CBO), модуль поворота плеча гониометра для анализа в плоскости образца, опциональной 9 кВт рентгеновской трубкой.

Ultima IV - рентгеновский дифрактометр многоцелевого назначения с горизонтальным расположением исследуемого образца

Дифрактометр RIGAKU Ultima IV – новая разработка компании RIGAKU.

На сегодняшний день – единственный дифрактометр с реализованной функцией полностью автоматической юстировки гониометра.

В дифрактометре Rigaku Ultima IV реализованы все возможные на сегодняшний день опции и приставки для дифрактометров для решения широкого круга задач.

MiniFlex II - настольный рентгеновский дифрактометр

MiniFlex II - компактный и портативный рентгеновский дифрактометр, обладающий исключительным соотношением "цена/эффективность", открывает новые перспективы использования рентгеноструктурного метода анализа на предприятиях, в университетах или научных центрах, где ранее этот метод казался недоступным.

Оптический профилометр SensoPRO

Промышленная метрология

Никогда еще промышленный метрологический контроль не был таким простым. Благодаря программному обеспечению SensoPRO и оптическим профилометрам серии PLu CP, оператору производственной линии необходимо лишь загрузить образцы для контроля в установку и следовать инструкциям программы. Программа SensoPRO непосредственно связана с программной частью оптических профилометров Sensofar.

Рентгеновская система FSAS III (снято с производства)

Установка включает в себя :

рентгеновский генератор

материал мишени рентгеновской трубки – медь

система охлаждения рентгеновской трубки – охлаждение воздухом с помощью вентилятора

максимальный номинальный режим работы – напряжение трубки: 30 кВ (фиксированное),

ток трубки: до 1 мА (регулируемый)

система детектирования: сцитилляционный счетчик

гониометр (диапазон углов измерения – Teta 0-50 градусов

Управление от встроенного компьютера

Оптический профилометр SensoMAP

SensoMAP - программный продукт, основанный на технологии «Mountains Technology®» компании «Digital Surf». Данное программное обеспечение работает под управлением Windows ОС и предназначено для измерений размеров и параметров поверхностей.

Оптический профилометр Plu CP

Серия для контроля продукции

Оптический контроль продукции

Серия PLu для контроля продукции специально разработана для быстрого оптического анализа больших образцов, таких как печатные платы, устройства, выполненные по технологии флип-чип и других целей.

Рентгеновская система 2991F2 (снято с производства)

Точность проведения измерений + 30”, -30”

Габариты и вес -1296х726х1514 мм, 300 кг

Защита от рентгеновского излучения закрытый кожух

Питание установки – 100 В, 15 А, 50/60 Гц)

Оптический профилометр Plu NEOX

3D Оптический профилометр

Sensofar рад представить вам 3D оптический профилометр neox. Данный профилометр – это прорыв в области бесконтактной оптической 3D профилометрии. Он сочетает в себе возможности конфокальной и интерферометрической профилометрии. Сочетание двух этих способов делает neox уникальной системой, превосходящей по своим параметрам существующие на сегодняшний день оптические профилометры.

Оптический профилометр APEX

Асферический оптический профилометр

PLu Apex оптический профилометр, способный измерять любые оптические поверхности – от асферических до плоских, а так же поверхности произвольной формы. Это особенно полезно при измерении оптики. Инновационная разработка компании Sensofar – технология конфокального отслеживания позволяет производить очень быстрые и точные измерения со скоростью до 1 мм/сек.

Оптический профилометр SENSOFAR S NEOX

Новый 3D Оптический профилометр

Sensofar с гордостью представляет новейший 3D оптический профилометр S neox - новой слово в оптической 3D профилометрии. S neox объединил в себе все существующие технологии в оптической профилометрии. Прибор объединяет в одной сенсорной головке технологии конфокальной микроскопии и интерферометрии без каких либо движущихся частей.

Спетроскопический эллипсометр SE 850

SE 850 - спектроскопический УФ-ВИД-ИК (UV-VIS-NIR) эллипсометр производства SENTECH Instruments GmbH (Германия) с возможностью проведения измерений пленок под различными углами разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик как однослойных пленок, так и многослойных пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Измерение нанопленок. Спектральный диапазон: 240 - 2500 (3500) нм


X
Запрос на оборудование
Заказать интересующее вас оборудование вы можете с помощью приведенной ниже формы.Специалисты ООО «ЭНЕРГОАВАНГАРД» свяжутся с вами в ближайшее время для уточнения вашего заказа и проконсультируют по всем интересующим вопросам.
ФИО *
Телефон *
Организация *
Какая продукция интересует?
Электронный адрес
Текст сообщения: *
Пройдите проверку:*